鍍層測厚儀XF-P3是西凡儀器面向鍍層無損檢測的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于各種電鍍、化學鍍、連接器等行業(yè)。該產品使用進口定制Fast SDD探測器，內置四核CPU工控電腦，運行Smart FP算法。無需標樣，可同時檢測鍍層厚度和成分，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高。

鍍層測厚儀XF-P3產品展示

鍍層測厚儀XF-P3產品特點

元素檢測范圍：鋁(No.13)～鈾(No.92)

可支持至多10層檢測

可同時支持鍍層厚度和成分檢測

檢測精度：相對誤差±1.5%（1微米厚度）,±0.01%(成分)

定制TCP/IP協(xié)議API接口，支持外部主機對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據采集

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

三準直器自動切換

多濾光片自動切換

XY平面微動平臺，輕松多點測試小樣品

鉛玻璃窗口，方便觀察樣品

鍍層測厚儀XF-P3產品規(guī)格

輸入電壓：交流AC100～240V，50Hz

產品包裝尺寸：615mmx555mmx480mm

產品尺寸：500mmx400mmx368mm

樣品腔尺寸：380mmx320mmx155mm

額定功率：<150W

毛重：59KG

凈重：46KG

噪音：50dB

使用環(huán)境：

溫度：15℃～31℃

濕度：<70%（不結露）

鍍層測厚儀XF-P3核心部件

探測器：AMPTEK定制版Fast SDD探測器

內置工控電腦：Intel I5四核+Windows11

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材：鎢

焦點：? 0.1mm

準直器：0.1×0.2mm/ 0.2×0.5mm/ ?1.0mm