XF-P1鍍層測(cè)厚儀是西凡儀器面向鍍層無(wú)損檢測(cè)的一款X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于各種電鍍、化學(xué)鍍等行業(yè)。該產(chǎn)品使用進(jìn)口定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置四核CPU工控電腦，運(yùn)行Smart FP算法。無(wú)需標(biāo)樣，可同時(shí)檢測(cè)鍍層厚度和成分，檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高。

鍍層測(cè)厚儀XF-P1產(chǎn)品展示

鍍層測(cè)厚儀XF-P1產(chǎn)品特點(diǎn)

元素檢測(cè)范圍：鋁(No.13)～鈾(No.92)

可支持*多四層檢測(cè)

可同時(shí)支持鍍層厚度和成分檢測(cè)

檢測(cè)精度：0.001um(厚度）

±0.02%(成分)

定制TCP/IP協(xié)議API接口，支持外部主機(jī)對(duì)設(shè)備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集

支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高

三準(zhǔn)直器自動(dòng)切換

XY平面微動(dòng)平臺(tái)，輕松多點(diǎn)測(cè)試小樣品

鉛玻璃窗口，方便觀察樣品

鍍層測(cè)厚儀XF-P1產(chǎn)品規(guī)格

輸入電壓：交流100～240V，50Hz

產(chǎn)品包裝尺寸：615mmx555mmx480mm

產(chǎn)品尺寸：500mmx400mmx368mm

樣品腔尺寸：380mmx320mmx155mm

額定功率：<150W

毛重：59KG

凈重：46KG

噪音：50dB

使用環(huán)境：

溫度：15℃～31℃

濕度：<70%（不結(jié)露）

鍍層測(cè)厚儀XF-P1核心部件

探測(cè)器：AMPTEK定制版Si-PIN探測(cè)器

內(nèi)置工控電腦：Intel I3四核+Windows11

高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材：鎢

焦點(diǎn)：? 0.5mm

準(zhǔn)直器：?0.5mm/ ?1.0mm/ ?2.0mm