XF-A5SMC 2024款是西凡儀器在2024年推出的一款全新升級(jí)光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品采用美國(guó)進(jìn)口定制Si-PIN探測(cè)器，內(nèi)置十核CPU電腦，支持Smart FP算法，創(chuàng)新性的應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路，其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。同時(shí)支持貴金屬成分分析、寶石成分分析、鍍層厚度分析和離子濃度分析等，檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，性價(jià)比高。MC型號(hào)支持雙準(zhǔn)直器，應(yīng)用范圍更廣。




一、多功能XRF光譜儀XF-A5SMC 2024產(chǎn)品特點(diǎn)

l元素檢測(cè)范圍：鉀(No.19)～鈾(No.92)          

l可支持*多30個(gè)元素同時(shí)計(jì)算

l可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

l可支持寶石人工/天然分析

l分析范圍：

u貴金屬：0.010%～99.999%  

u鍍層：0.002um~80um

u濃度分析：10ug/L~200g/L

l檢測(cè)精度：

u貴金屬：±0.03%(9999金)

u鍍層厚度：RSD≤2.5%

u濃度：RSD≤2.5%

l檢測(cè)樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體

l 支持多點(diǎn)連續(xù)測(cè)試，測(cè)試效率高







二、多功能XRF光譜儀XF-A5SMC 2024核心部件

l探測(cè)器：AMETEK定制版Si-PIN探測(cè)器

n探測(cè)器面積：6mm2

n分辨率：145±5eV

l內(nèi)置工控電腦：Intel i3十核電腦+win11系統(tǒng)

l高壓電源：50KV/1mA數(shù)字高壓電源

lX射線管：50KV/1mA

n窗口材料：玻璃窗

n靶材：鎢

n焦點(diǎn)：? 0.5mm

l準(zhǔn)直器：Φ0.8毫米+Φ2.0毫米

三、多功能XRF光譜儀XF-A5SMC 2024軟件測(cè)試截圖