XF-S6 2024檢測儀是西凡儀器在2024年針對S6的一款升級版X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于貴金屬產業(yè)鏈、電鍍產業(yè)鏈、寶石產業(yè)鏈等行業(yè)。該產品采用美國進口定制Fast-SDD探測器，多準直器多濾光片，內置12核十二線程CPU工控電腦，采用西凡第二代X射線與可見光共焦點垂直光路以及Smart FP算法。其同時支持貴金屬成分分析、寶石成分分析、RoHS檢測、鍍層厚度分析、礦石成分分析和離子濃度分析等，檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高。



一、多功能XRF光譜儀XF-S6 2024產品特點

l元素檢測范圍：鋁(No.13)～鈾(No.92)          

l可支持*多30個元素同時計算

l可支持4層鍍層厚度及合金鍍層分析

l可支持寶石人工/天然分析

l分析范圍：

u成分分析：0.010%～99.999%

u厚度分析：0.001um~80um

u濃度分析：5微克/升~200克/升

l檢測精度：

u貴金屬：±0.01%(9999金)

u鍍層厚度：RSD≤1.5%

u濃度：RSD≤1.5%

l檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/珍珠/液體/礦石粉末/RoHS

l定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數據采集

l支持多點連續(xù)測試，測試效率高

l選裝10工位轉盤，自動連續(xù)測試10個樣品







二、多功能XRF光譜儀XF-S6 2024核心配件

l探測器：AMETEK定制版Fast-SDD探測器

n探測器面積：25mm2

n分辨率：125±5eV

l內置工控電腦：Intel i5十二核電腦+win11系統(tǒng)

l高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

lX射線管：50KV/1mA

n窗口材料：鈹窗

n靶材：鎢

n焦點：? 0.1mm

l準直器：?0.5mm+?1.5mm

三、多功能XRF光譜儀XF-S6 2024軟件測試截圖