XF-A5S貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于珠寶首飾工廠以及回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用目前先進(jìn)的進(jìn)口定制Si-PIN探測器,內(nèi)置四核CPU工控電腦,采用全新的垂直光路。檢測速度快,測試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高,性價比極高。
元素檢測范圍:鉀(No.19)~鈾(No.92)
可支持*多30個元素同時計算
分析范圍:0.01%~99.99%
檢測精度:±0.03%(9999金)
檢測樣品:固體/液體/粉末定制TCP/IP協(xié)議API接口,支持外網(wǎng)對設(shè)備的控制、狀態(tài)監(jiān)控及數(shù)據(jù)采集
支持多點連續(xù)測試,測試效率高
內(nèi)置ARM四核XRF專用電腦+Linux內(nèi)核,無懼木馬和病毒軟件
選裝10工位轉(zhuǎn)盤,自動連續(xù)測試10個樣品
探測器:AMPTEK定制版Si-PIN探測器
內(nèi)置工控電腦:英特爾i3十核
高壓電源:50KV/1mA數(shù)字高壓電源
X射線管:50KV/1mA窗口材料:玻璃窗
靶材:鎢
焦點:? 0.5mm
準(zhǔn)直器:?2.5mm
輸入電壓:AC100~240V,50Hz
產(chǎn)品包裝尺寸:565mmx535mmx500mm
產(chǎn)品尺寸:450mmx422mmx378mm
樣品艙尺寸:366mmx336mmx141mm
額定功率:<150W
毛重:47KG凈重:35KG
噪音:50dB
使用環(huán)境:
溫度:15℃~31℃
濕度:<70%(不結(jié)露)
1、無損檢測
貴金屬的稀缺與寶貴,讓灰吹法等傳統(tǒng)的破壞性檢測方法越來越不適用,市場上迫切需要一種快速、準(zhǔn)確、無損的檢測方法,而X射線熒光光譜法無非是很好的貴金屬無損檢測方法。
2、規(guī)避交易風(fēng)險
社會上金銀首飾摻假現(xiàn)象時有發(fā)生,不論是商家還是顧客都為此蒙受巨大的損失,而西凡儀器貴金屬檢測儀可以讓金銀首飾的真實含量準(zhǔn)確呈現(xiàn),在這種公平公開的市場環(huán)境下,自然可以規(guī)避交易風(fēng)險。
3、誠信展示
金銀首飾的摻假現(xiàn)象,讓顧客對商家產(chǎn)生了不信任,而商家借助金銀檢測儀可以將誠信經(jīng)營的形象展現(xiàn)給顧客。
4、提升競爭力
客戶的信任能給珠寶首飾店帶來更多的營業(yè)收入,從而提升了市場競爭力。當(dāng)前國內(nèi)外許多珠寶店都配備有金銀檢測儀,這也是他們在行業(yè)里能保持強(qiáng)大競爭力的原因之一。