XF-S8貴金屬檢測(cè)儀是西凡儀器針對(duì)貴金屬行業(yè)推出的一款專用檢測(cè)萬(wàn)足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測(cè)和液體濃度檢測(cè)，可廣泛應(yīng)用于珠寶首飾工廠、實(shí)驗(yàn)室、檢測(cè)站和回收等行業(yè)和單位。該產(chǎn)品采用先進(jìn)的進(jìn)口高端Fast-SDD探測(cè)器，內(nèi)置十二核工控電腦，采用X射線與可見(jiàn)光共焦點(diǎn)光路設(shè)計(jì)和全新的Smart FP算法。檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，適用范圍廣。

貴金屬檢測(cè)儀XF-S8優(yōu)勢(shì)

檢測(cè)精度高：99999金，（0.001%）

高端配置：進(jìn)口高端Fast-SDD探測(cè)器

多準(zhǔn)直器：0.5/1.0/2.0

檢測(cè)范圍：鋁Al(No.13)~鈾U(No.92)

操作簡(jiǎn)單：快速無(wú)損檢測(cè)

售后保障：7*24小時(shí)服務(wù)